半导体静态参数测试系统-西安长禾半导体技术有限公司

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所属分类：检测设备发布时间： 2021-03-27 作者：admin

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半导体静态参数测试系统

是针对半导体的各种静态参数而研制的智能测试系统。适合各大研究院所做元器件检验，元件进厂检测筛选以及在线开发器件做生产测试。

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